Responsabile: Prof. Davide De Salvador

Personale Afferente: Chiara Maurizio, Carlo Scian, Giovanni Mattei,
Ruggero Milazzo, Gianluigi Maggioni, Marco Bazzan, Carlo Scian, Luca Bacci

Breve descrizione:
Il laboratorio Diffrazione di Raggi X (XRD) è basato su un diffrattometro Philips Panalytical XPert Pro, equipaggiato sia per misure di diffrazione da polveri che per l'analisi di film monocristallini in alta risoluzione (HRXRD). Sono inoltre possibili misure di diffrazione  in incidenza radente (GIXRD) e di riflettività X (XRR).
Queste tecniche di indagine strutturali consentono, oltre alle classiche misure su polveri policristalline (individuazione della fase, parametro di cella, orientazione preferenziale, microstruttura, taglia dei cristalliti) anche l'analisi del grado di deformazione meccanica (strain) su strutture monocristalline epitassiali o film drogati prodotti tramite impianto ionico, nonché la caratterizzazione dello spessore e della rugosità di film sottili in genere, inclusi ricoprimenti metallici.
Il sistema è operato tramite un tubo a raggi X con anodo di rame, equipaggiato con spcchio parabolico multistrato e monocromatore Bartels. Un sistema di goniometri consente misure angolari con una precisione fino a 0.0001 gradi. La distribuzione angolare di intensità del fascio diffuso dal campione viene analizzata dal detector con una risoluzione angolare massima di 0.003 gradi in modalità "triplo asse".  Il sistema è inoltre equipaggiato con uno stadio riscaldante Anton Paar DHS 900 che permette di eseguire misure in situ in un range di temperature tra l'ambiente e 900°C.